Burn-in là một thử nghiệm ứng suất điện sử dụng điện áp và nhiệt độ để đẩy nhanh quá trình hỏng điện của thiết bị. Burn-in về cơ bản mô phỏng tuổi thọ hoạt động của thiết bị, vì sự kích thích điện được áp dụng trong quá trình burn-in có thể phản ánh độ lệch trường hợp xấu nhất mà thiết bị sẽ phải chịu trong suốt thời gian sử dụng của nó. Tùy thuộc vào thời gian burn-in được sử dụng, thông tin độ tin cậy thu được có thể liên quan đến tuổi thọ ban đầu của thiết bị hoặc sự hao mòn của nó. Burn-in có thể được sử dụng như một màn hình độ tin cậy hoặc như một màn hình sản xuất để loại bỏ các trường hợp tử vong ở trẻ sơ sinh tiềm ẩn khỏi lô. Quá trình đốt cháy thường được thực hiện ở nhiệt độ 125 độ C, với sự kích thích điện được áp dụng cho các mẫu. Quá trình đốt cháy được tạo điều kiện thuận lợi bằng cách sử dụng các tấm đốt cháy (xem Hình 1) nơi các mẫu được nạp. Các tấm đốt cháy này sau đó được đưa vào lò đốt cháy (xem Hình 2), cung cấp điện áp cần thiết cho các mẫu trong khi vẫn duy trì nhiệt độ lò ở 125 độ C. Độ lệch điện được áp dụng có thể là tĩnh hoặc động, tùy thuộc vào cơ chế hỏng hóc được tăng tốc. Hình 1. Ảnh chụp Bo mạch chủ trần và có ổ cắmPhân phối vòng đời hoạt động của một quần thể thiết bị có thể được mô hình hóa như một đường cong bồn tắm, nếu các lỗi được biểu diễn trên trục y so với vòng đời hoạt động trên trục x. Đường cong bồn tắm cho thấy tỷ lệ lỗi cao nhất mà một quần thể thiết bị gặp phải xảy ra trong giai đoạn đầu của vòng đời, hoặc giai đoạn đầu đời, và trong giai đoạn hao mòn của vòng đời. Giữa giai đoạn đầu đời và giai đoạn hao mòn là một khoảng thời gian dài mà các thiết bị hỏng rất ít. Hình 2. Hai ví dụ về lò đốtQuá trình kiểm tra lỗi đầu đời (ELF) theo tên gọi của nó, được thực hiện để sàng lọc các lỗi tiềm ẩn đầu đời. Quá trình này được thực hiện trong thời gian 168 giờ hoặc ít hơn, và thông thường chỉ trong 48 giờ. Các lỗi điện sau khi kiểm tra lỗi đầu đời được gọi là lỗi đầu đời hoặc tử vong ở trẻ sơ sinh, có nghĩa là các thiết bị này sẽ hỏng sớm nếu chúng được sử dụng trong hoạt động bình thường.Kiểm tra Tuổi thọ hoạt động ở nhiệt độ cao (HTOL) ngược lại với thử nghiệm đốt cháy màn hình ELF, kiểm tra độ tin cậy của các mẫu trong giai đoạn hao mòn của chúng. HTOL được tiến hành trong thời gian 1000 giờ, với các điểm đọc trung gian ở 168 H và 500 H.Mặc dù sự kích thích điện áp dụng cho các mẫu thường được xác định theo điện áp, nhưng cơ chế hỏng hóc được tăng tốc bởi dòng điện (như sự di chuyển điện tử) và trường điện (như sự đứt gãy điện môi) cũng dễ hiểu là được tăng tốc bởi quá trình đốt nóng.
Nếu bạn quan tâm đến sản phẩm của chúng tôi và muốn biết thêm thông tin chi tiết, vui lòng để lại tin nhắn ở đây, chúng tôi sẽ trả lời bạn sớm nhất có thể.
Nhận báo giá
Mạng IPv6 được hỗ trợ