Kiểm tra độ tin cậy của điốt phát quang cho truyền thông

Kiểm tra độ tin cậy của điốt phát quang cho truyền thông

Xác định lỗi diode phát sáng truyền thông:

Cung cấp dòng điện cố định để so sánh công suất đầu ra quang và xác định lỗi nếu lỗi lớn hơn 10%

Kiểm tra độ ổn định cơ học:

Kiểm tra va đập: 5tims/trục, 1500G, 0,5ms

Kiểm tra độ rung: 20G, 20 ~ 2000Hz, 4 phút/chu kỳ, 4 chu kỳ/trục

Kiểm tra sốc nhiệt chất lỏng: 100℃(15 giây)←→0℃(5 giây)/5 chu kỳ

Khả năng chịu nhiệt hàn: 260℃/10 giây/1 lần

Độ bám dính hàn: 250℃/5 giây

Kiểm tra độ bền:

Kiểm tra lão hóa tăng tốc: 85℃/ công suất (công suất định mức tối đa)/5000 giờ, 10000 giờ

Lưu trữ ở nhiệt độ cao: nhiệt độ lưu trữ định mức tối đa /2000 giờ

Kiểm tra lưu trữ ở nhiệt độ thấp: nhiệt độ lưu trữ định mức tối đa / 2000 giờ

Kiểm tra chu kỳ nhiệt độ: -40℃(30 phút)←85℃(30 phút), RAMP: 10/phút, 500 chu kỳ

Kiểm tra khả năng chống ẩm: 40℃/95%/56 ngày, 85℃/85%/2000 giờ, thời gian bịt kín

Kiểm tra sàng lọc phần tử diode truyền thông:

Kiểm tra sàng lọc nhiệt độ: 85℃/ công suất (công suất định mức tối đa)/ xác định lỗi sàng lọc 96 giờ: So sánh công suất đầu ra quang với dòng điện cố định và xác định lỗi nếu sai số lớn hơn 10%

Kiểm tra sàng lọc mô-đun diode truyền thông:

Bước 1: Kiểm tra chu kỳ nhiệt độ: -40℃(30 phút)←→85℃(30 phút), RAMP: 10/phút, 20 chu kỳ, không có nguồn điện

Bước 2: Kiểm tra sàng lọc nhiệt độ: 85℃/ công suất (công suất định mức tối đa)/96 giờ