Kiểm tra ứng suất gia tốc cao HAST

• AEC-Q100- Cơ chế lỗi dựa trên chứng nhận kiểm tra ứng suất mạch tích hợp

  Oct 12, 2024

  AEC-Q100- Cơ chế lỗi dựa trên chứng nhận kiểm tra ứng suất mạch tích hợpVới sự tiến bộ của công nghệ điện tử ô tô, trên những chiếc ô tô ngày nay có rất nhiều hệ thống điều khiển quản lý dữ liệu phức tạp, thông qua nhiều mạch độc lập để truyền tín hiệu cần thiết giữa các mô-đun, hệ thống bên trong ô tô giống như "kiến trúc chủ-tớ" của mạng máy tính, trong bộ điều khiển chính và từng mô-đun ngoại vi, các bộ phận điện tử ô tô được chia thành ba loại. Bao gồm IC, bán dẫn rời rạc, linh kiện thụ động ba loại, để đảm bảo rằng các linh kiện điện tử ô tô này đáp ứng các tiêu chuẩn cao nhất của anquan ô tô, Hiệp hội Điện tử Ô tô Hoa Kỳ (AEC, Hội đồng Điện tử Ô tô là một bộ tiêu chuẩn [AEC-Q100] được thiết kế cho các bộ phận chủ động [vi điều khiển và mạch tích hợp...] và [[AEC-Q200] được thiết kế cho các thành phần thụ động, trong đó chỉ định chất lượng sản phẩm và độ tin cậy phải đạt được đối với các bộ phận thụ động. Aec-q100 là tiêu chuẩn thử nghiệm độ tin cậy của xe do tổ chức AEC xây dựng, là một mục nhập quan trọng cho các nhà sản xuất 3C và IC vào mô-đun nhà máy ô tô quốc tế và cũng là một công nghệ quan trọng để nâng cao chất lượng độ tin cậy của IC Đài Loan. Ngoài ra, nhà máy ô tô quốc tế đã thông qua tiêu chuẩn anquan (ISO-26262). AEC-Q100 là yêu cầu cơ bản để vượt qua tiêu chuẩn này.Danh sách các linh kiện điện tử ô tô cần đạt chuẩn AECQ-100:Bộ nhớ dùng một lần cho ô tô, Bộ điều chỉnh hạ áp nguồn điện, Bộ ghép quang ô tô, Cảm biến gia tốc ba trục, Thiết bị jiema video, Bộ chỉnh lưu, Cảm biến ánh sáng xung quanh, Bộ nhớ sắt điện không bay hơi, IC quản lý nguồn điện, Bộ nhớ flash nhúng, Bộ điều chỉnh DC/DC, Thiết bị truyền thông mạng đồng hồ đo xe, IC điều khiển LCD, Bộ khuếch đại vi sai nguồn điện đơn, Công tắc tiệm cận điện dung Tắt, Trình điều khiển LED độ sáng cao, Bộ chuyển mạch không đồng bộ, IC 600V, IC GPS, Chip hệ thống hỗ trợ người lái tiên tiến ADAS, Bộ thu GNSS, Bộ khuếch đại đầu cuối GNSS... Chúng ta hãy cùng chờ.Các hạng mục và bài kiểm tra AEC-Q100:Mô tả: Tiêu chuẩn AEC-Q100 có 7 danh mục chính, tổng cộng 41 bài kiểm traNhóm A- KIỂM TRA CĂNG THẲNG MÔI TRƯỜNG GIA TỐC bao gồm 6 bài kiểm tra: PC, THB, HAST, AC, UHST, TH, TC, PTC, HTSLNhóm B- KIỂM TRA MÔ PHỎNG ĐỜI SỐNG TĂNG TỐC bao gồm ba bài kiểm tra: HTOL, ELFR và EDRKIỂM TRA TÍNH TOÀN VẸN CỦA LẮP RÁP GÓI bao gồm 6 bài kiểm tra: WBS, WBP, SD, PD, SBS, LINhóm D- Kiểm tra ĐỘ TIN CẬY CỦA CHẾ TẠO KHUÔN bao gồm 5 KIỂM TRA: EM, TDDB, HCI, NBTI, SMNhóm KIỂM TRA XÁC MINH ĐIỆN bao gồm 11 bài kiểm tra, bao gồm TEST, FG, HBM/MM, CDM, LU, ED, CHAR, GL, EMC, SC và SERKIỂM TRA SÀNG LỌC KHUYẾT TẬT CỤM F: 11 xét nghiệm, bao gồm: PAT, SBAKIỂM TRA ĐỘ TOÀN VẸN CỦA GÓI KHOANG bao gồm 8 bài kiểm tra, bao gồm: MS, VFV, CA, GFL, DROP, LT, DS, IWVMô tả ngắn gọn về các mục kiểm tra:AC: Nồi áp suấtCA: gia tốc không đổiCDM: chế độ thiết bị tích điện phóng tĩnh điệnCHAR: biểu thị mô tả tính năngDROP: Gói hàng rơi xuốngDS: thử nghiệm cắt phoiED: Phân phối điệnEDR: độ bền lưu trữ không dễ bị lỗi, lưu giữ dữ liệu, tuổi thọ làm việcELFR: Tỷ lệ thất bại trong giai đoạn đầu đờiEM: di cư điện tửEMC: Tương thích điện từFG: mức lỗiGFL: Kiểm tra rò rỉ không khí thô/mịnGL: Rò rỉ cổng do hiệu ứng nhiệt điệnHBM: chỉ ra chế độ phóng tĩnh điện của con ngườiHTSL: Thời gian lưu trữ ở nhiệt độ caoHTOL: Tuổi thọ làm việc ở nhiệt độ caoHCL: hiệu ứng tiêm chất mang nóngIWV: Kiểm tra độ ẩm bên trongLI: Tính toàn vẹn của chân cắmLT: Kiểm tra mô men xoắn của tấm cheLU: Hiệu ứng chốtMM: chỉ ra chế độ cơ học của phóng tĩnh điệnMS: Sốc cơ họcNBTI: sự bất ổn nhiệt độ thiên vị giàuPAT: Kiểm tra trung bình quá trìnhPC: Tiền xử lýPD: kích thước vật lýPTC: chu kỳ nhiệt độ nguồnSBA: Phân tích năng suất thống kêSBS: cắt bi thiếcSC: Tính năng ngắn mạchSD: khả năng hànSER: Tỷ lệ lỗi mềmSM: Di cư căng thẳngTC: chu trình nhiệt độTDDB: Thời gian qua sự cố điện môiTEST: Các tham số chức năng trước và sau khi kiểm tra ứng suấtTH: ẩm ướt và nóng không thiên vịTHB, HAST: Kiểm tra ứng suất nhiệt độ, độ ẩm hoặc gia tốc cao với độ lệch áp dụngUHST: Thử nghiệm ứng suất gia tốc cao không có sai lệchVFV: rung động ngẫu nhiênWBS: cắt dây hànWBP: độ căng của dây hànĐiều kiện thử nghiệm nhiệt độ và độ ẩm hoàn thiện:THB (nhiệt độ và độ ẩm với độ lệch áp dụng, theo JESD22 A101): 85℃/85%RH/1000h/độ lệchHAST (Kiểm tra ứng suất gia tốc cao theo JESD22 A110): 130℃/85%RH/96h/độ lệch, 110℃/85%RH/264h/độ lệchNồi áp suất AC, theo JEDS22-A102:121 ℃/100%RH/96hThử nghiệm ứng suất gia tốc cao UHST không có độ lệch, theo JEDS22-A118, thiết bị: HAST-S): 110℃/85%RH/264hTH không có độ ẩm nhiệt độ thiên vị, theo JEDS22-A101, thiết bị: THS): 85℃/85%RH/1000hTC (chu trình nhiệt độ, theo JEDS22-A104, thiết bị: TSK, TC):Mức 0: -50℃←→150℃/2000 chu kỳMức 1: -50℃←→150℃/1000 chu kỳMức 2: -50℃←→150℃/500 chu kỳMức 3: -50℃←→125℃/500 chu kỳMức 4: -10℃←→105℃/500 chu kỳPTC (chu kỳ nhiệt độ nguồn, theo JEDS22-A105, thiết bị: TSK):Mức 0: -40℃←→150℃/1000 chu kỳMức 1: -65℃←→125℃/1000 chu kỳMức 2 đến 4: -65℃←→105℃/500 chu kỳHTSL (Tuổi thọ lưu trữ ở nhiệt độ cao, JEDS22-A103, thiết bị: LÒ NƯỚNG):Linh kiện đóng gói bằng nhựa: Cấp 0:150 ℃/2000hCấp 1:150 ℃/1000hCấp độ 2 đến 4: 125 ℃/1000h hoặc 150℃/5000hCác bộ phận đóng gói bằng gốm: 200℃/72hHTOL (Tuổi thọ làm việc ở nhiệt độ cao, JEDS22-A108, thiết bị: LÒ NƯỚNG):Cấp 0:150 ℃/1000hLớp 1: 150℃/408h hoặc 125℃/1000hCấp độ 2: 125℃/408h hoặc 105℃/1000hCấp độ 3: 105℃/408h hoặc 85℃/1000hLớp 4: 90℃/408h hoặc 70℃/1000h ELFR (Tỷ lệ suy dinh dưỡng giai đoạn đầu đời, AEC-Q100-008) :Các thiết bị vượt qua bài kiểm tra ứng suất này có thể được sử dụng cho các bài kiểm tra ứng suất khác, có thể sử dụng dữ liệu chung và thực hiện các bài kiểm tra trước và sau ELFR trong điều kiện nhiệt độ nhẹ và cao.

  THẺ HOT : Kiểm tra ứng suất gia tốc cao HAST Buồng thử nhiệt độ có thể lập trình Buồng thử nghiệm nhiệt độ và độ ẩm không đổi Buồng thử nghiệm thay đổi nhiệt độ không đổi Phòng thử nghiệm sốc nóng và lạnh Buồng thử nhiệt độ cao và thấp

  ĐỌC THÊM